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本設(shè)備應(yīng)用于可見光CHIP常溫PIV測(cè)試、光譜測(cè)試并對(duì)不同測(cè)試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片藍(lán)膜上料，自動(dòng)尋料、識(shí)別定位，通過藍(lán)膜頂針剝離芯片、吸嘴吸取、機(jī)械手完成...
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